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IC产品可靠性等级测试之环境测试项目有哪些？

1、PRE-CON:预处理测试（PreconditionTest）目的：模拟IC在使用之前在一定湿度，温度条件下存储的耐久力，也就是IC从生产到使用之间存储的可靠性。

2、THB:加速式温湿度及偏压测试（TemperatureHumidityBiasTest）

目的：评估IC产品在高温，高湿，偏压条件下对湿气的抵抗能力，加速其失效进程。

测试条件：85℃，85%RH,1.1VCC,Staticbias

失效机制：电解腐蚀

3、高加速温湿度及偏压测试（HAST:HighlyAcceleratedStressTest）

目的：评估IC产品在偏压下高温，高湿，高气压条件下对湿度的抵抗能力，加速其失效过程。

测试条件：130℃，85%RH,1.1VCC,Staticbias，2.3atm

失效机制：电离腐蚀，封装密封性

4、PCT:高压蒸煮试验PressureCookTest(AutoclaveTest)

目的：评估IC产品在高温，高湿，高气压条件下对湿度的抵抗能力，加速其失效过程。

测试条件：130℃，85%RH,Staticbias，15PSIG（2atm）

失效机制：化学金属腐蚀，封装密封性

5、SHTTest:焊接热量耐久测试（SolderHeatResistivityTest）

目的：评估IC对瞬间高温的敏感度测试

方法：侵入260℃锡盆中10秒

失效标准（FailureCriterion）：根据电测试结果 优普士电子专业做芯片烧录，价格合理，型号覆盖广。自动化IC测烧厂家供应

生产流程方面的测试

如从生产流程方面的测试讲，IC测试一般又分为芯片测试、成品测试和检验测试，除非特别需要，芯片测试一般只进行直流测试，而成品测试既可以有交流测试，也可以有直流测试，在更多的情况下，这两种测试都有。在一条量产的生产线上，检验测试尤为重要，它一般进行和成品测试一样的内容，它是**用户对即将入库的成品进行检验，体现了对实物质量以及制造部门工作质量的监督。

模拟电路的测试

就模拟电路的测试而言，IC测试一般又分为以下两类测试，其一是直流特性测试，主要包括端子电压特性、端子电流特性等；其二是交流特性测试，这些交流特性和该电路完成的特定功能密切有关，比如一块音频功放电路，其增益指标、输出功率、失真指标等都是很重要的参数；色处理电路中色解码部分的色差信号输出，色相位等参数也是很重要的交流测试项目。 深圳半自动IC测烧烧录过程在此处被称为编程，在某些地方也被称为IC复制。

一款芯片是怎样诞生的呢？需要进行哪些IC测试？需要经过哪些生产环节？大致来看，芯片成为商品之前，需要通过芯片设计公司完成设计，高通，联发科等都是芯片设计公司，采用EDA工业软件，芯片架构之后完成一款芯片的设计研发。然后将设计好的芯片交给台积电，三星这些芯片制造商，由他们负责代加工，进行实际生产制造。芯片测试，设计初期系统级芯片测试。由于每个功能元件都有其自身的测试要求，设计工程师必须在设计初期就做出测试规划。

一．芯片要想顺利上市应用，这三大测试缺一不可。

1、性能测试芯片在生产制造过程中，有无数可能会引入缺陷的步骤，即使是同一批晶圆和封装成品，芯片也各有好坏，需要进行测试筛选。

2、功能测试芯片制作出来后，为了应用不同场景，对它的各项参数、指标、功能都有一定要求，需要测试是否达标。

3、可靠性测试芯片通过了功能与性能测试，得到了好的芯片，但是芯片会不会被冬天里讨厌的静电弄坏，在雷雨天、三伏天、风雪天能否正常工作，以及芯片能用一个月、一年还是十年等等，这些都要通过可靠性测试进行评估。

IC测试治具中的探针主要起到了什么作用呢？

IC测试治具的测试针是用于测试PCBA的一种探针。表面镀金，内部有平均寿命3万~10万次的高性能弹簧。材质主要有W、ReW、CU、A+等几种类型。W，ReW弹性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨损损针长，寿命一般。而A+材质的免清针，这种材质弹性较好，测试中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此寿命较长。IC测试治具的探针主要用于PCB板测试，主要可分为弹簧针(针)和通用针。

弹簧针在使用时，需要根据IC测试治具所测试的PCB板的布线情况制作测试模具，且一般情况下，一个模具只能测试一种PCB板；通用针在使用时，只需有足够的点数即可，故现在很多厂家都在使用通用针；弹簧针根据使用情况又分为PCB板探针、ICT探针、BGA探针，PCB板探针主要用于PCB板测试，ICT探针主要用于插件后的在线测试，BGA探针主要用于BGA封装的芯片测试。 通过IC烧录，我们可以将固件或软件加载到芯片中，使其能够正常工作。

为什么要进行芯片测试？

1、随着芯片的复杂度原来越高，芯片内部的模块越来越多，制造工艺也是越来越先进，对应的失效模式越来越多，而如何能完整有效地测试整个芯片，在设计过程中需要被考虑的比重越来越多。

2、设计、制造、甚至测试本身，都会带来一定的失效，如何保证设计处理的芯片达到设计目标，如何保证制造出来的芯片达到要求的良率，如何确保测试本身的质量和有效，从而提供给客户符合产品规范的、质量合格的产品，这些都要求必须在设计开始的时候就要考虑测试方案。

3、成本的考量。越早发现失效，越能减少无谓的浪费；设计和制造的冗余度越高，越能提供产品的良率；同时，如果能得到更多的有意义的测试数据，也能反过来提供给设计和制造端有用的信息，从而使得后者有效地分析失效模式，改善设计和制造良率。 秉持“客户至上，服务优先”的精神！深圳半自动IC测烧

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烧录座的使用方法：

1、正确放置烧录座在烧录器上。

2、左手轻压/打开烧录座，同时用右手挤压吸笔，来吸IC。注意：压烧录座的时候两边受力要均匀，且垂直或水平Socket方向压，不可斜角线压，否则容易压坏烧录座。

3、吸好IC，把IC水平的放入烧录座内，IC在距离烧录座内针上空1-2mm时，挤压吸笔释放IC，让其自由落入烧录座，切勿直接把IC按入烧录座中，再强行的移除吸笔。若感觉IC没有放稳，可用吸笔轻轻拨一下IC，或再吸起。

4、IC放入正确后，轻轻的松手，让烧录座两边的压轴，稳当的压在IC上。 自动化IC测烧厂家供应